Innovative Technologien und höchste Qualität gepaart mit unserer langjähriger Erfahrung

Ein umfangreicher Katalog an

• telezentrischen Messobjektiven,
• telezentrischen Großfeldobjektiven,
• Mikroskopobjektiven
• und entozentrischen Objektiven, gepaart mit der kundenspezifischen Optikentwicklung oder -Anpassung an Ihre Anforderungen mit der kürzesten Time2Market und moderaten Losgrößen.

Auch in Sachen Beleuchtung bietet Vision & Control eine umfassende Auswahl an telezentrischen Beleuchtungen, Ring-, Linien-, Flächen-, Spot- und Dombeleuchtungen.

Ist die passende Lösung nicht vorhanden, erfolgt die Anpassung der Beleuchtung an spezielle Anforderungen. Die Integration der Beleuchtung in ein optisches System ist ein weiterer Bestandteil unserer OEM-Dienstleistungen.

- ist ein Garant dafür, dass Vision & Control bei der Umsetzung der einzigartigen Eigenschaften des Lichts in innovative Applikationen für die Glasprüfung. Einige optische Phänomene werden erst durch die Mathematik im Hintergrund sichtbar.

Unser Applikationsteam unterstützt Sie gern bei der Realisierung ihrer Prüfaufgaben.

Ein großes Sortiment an Zubehör und optische Filtern unterstützt die Lösungsfindung.

Die höchste Präzision in der Vermessung von Strukturen, Abmessungen und Positionierung von Halbleitern, Halbleiterkomponenten sowie Gedruckter Schaltungen wird durch die gezielte Kombination von telezentrischer Optik und der für die Auswertung passende Beleuchtung erreicht.

Auch bei optisch kritischen Oberflächen und optisch aktiven Materialien führen die speziellen Lösungen von Vision & Control zu hervorragenden Prüfergebnissen.

Durch die gezielte Ausnutzung der Vorteile telezentrischer Optik und der pasenden Beleuchtung, lassen sich unterschiedliche Bauteilhöhen auf Gedruckten Schaltungen (PCB) mit Elektronischen Bauteilen perfekt analysieren, ohne Kantenüberschneidungen in Kauf nehmen zu müssen oder den Betrachtungswinkel verändern müssen.

Je nach Prüfschwerpunkt, kann die Darstellung glänzender Strukturen mit gerundeten Oberflächen oder Minisken durch die Kombination einer homogenen Auflichtbeleuchtung und der koaxialen Einspiegelung der Beleuchtung in den Strahlengang des Objektivs problemlos in den selben Prüfschritt integriert werden.

Der Einsatz linearer oder spezieller zirkularer Polarisationsfilter erleichtert die Darstellung vieler Fehler auf Halbleitermaterialien.

Die Inspektion von Steckverbindern ist häufig mit der Herausforderung verbunden, dass der Kontaktbereich sich in einer  Vertiefung  befindet und nur schlecht ausreichend beleuchtet werden kann. In dieser Konstellation ist ebenfalls die gezielte Kombination verschiedener Auflichttechnologien erforderlich.

In Abhängigkeit der Größe und Tiefe des Kontaktbereichs, kann eine spezielle Schärfentiefe oder die Verstellung des Arbeitsabstands bzw. des Fokus notwendig sein, um in jedem Fall die erforderliche Abbildungsqualität über den gesamten Bereich zu gewährleisten. Diese Herausforderung kann durch die Integration eines Flüssiglinsenmoduls in das optische System realisiert werden.

Durch die Nutzung der I2C Schnittstelle der Kamera zum Flüssiglinsenmodul, kann die Eichstellung des Fokus auf das schärfste Bild einstellung oder gezielte Verstellung des Arbeitsabstands durch GenICam Befehle vom Bildverarbeitungssystem vicosys ® gesteuert werden. Diese Lösung liefert Vision & Control aus einer Hand.

Nutzen Sie die wellenlängenspezifische Reflektion von Materialien, insbesondere im kurzwelligem Infrarotbereich (SWIR), um verborgene Strukturen in Halbleitermaterialien oder durchsichtige Strukturen an der Oberfläche sichtbar zu machen. Möglich macht dies die Bildgebung und -verarbeitung im SWIR-Wellenlängenbereich. Vision & Control entwickelt, fertigt und liefert dafür die Passenden Optiken, Kameras und vicosys^® Bildverarbeitungssysteme.

Elementar ist, dass das optische System sowohl die passende chromatische Korrektion als auch die optimale Transmission in dem Fokuswellenlängenbereich des Kunden realisieren kann.

 Unser Applikationsteam unterstützt Sie gern bei der Realisierung ihrer Prüfaufgaben.

Ebenfalls die Infrarotstrahlung heißer Körper nutzend, bietet die Thermoinspektion mit entsprechenden Thermokameras (Mikrobolometer Kameras) die Möglichkeit, sowohl optische Inspektionsaufgaben als auch die präzise Messung von Temeraturen und Temperaturgradienten zu realisieren. Diese Technologie basiert auf der Detektion von Infrarotstrahlung im MWIR- und LWIR-Wellenlängenbereich.

Im Zusammenspiel mit der Thermographie-Funktion unserer vicosys ® Bildverarbeitungssysteme können Thermographieinspektionen umgesetzt und per Schnittstelle an die Anlagensteuerung übermittelt werden.

Optiken mit perizentrischer Perspektive erlauben die Inspektion und Messung von Oberflächenstukturen und Höhenunterschieden. Durch exakte Abstimmung von Beleuchtung, Optik, der Kamera sowie dem Bildverarbeitungssystem vicosys ®, können diese Profildaten durch bestimmte Berechnungen im Hintergrund messbar gemacht werden.

Eine weitere Möglichkeit Höhenunterschiede in genauester Skalierung darzustellen ist der Einsatz von Objektiven mit sehr geringer Schärfentiefe und hoher Numerischer Apertur (NA), um z.B.  im „Depth from Focus“ Verfahren genaueste Höhenmessungen neben weiteren Perspektiven mit nur einer Optik sicherzustellen.

Der Einsatz von Großfeldobjektiven und entsprechenden großen telezentrischen Beleuchtungen ermöglicht die telezentrische Inspektion und Ausrichtung von Nutzen bzw. Wafern als Ganzes. 

In Abhängigkeit von der spezifischen Anwendung kommen unsere Großfeldobjektive in Fresnel - Technologie für verschiedene Sensorgrößen und Bildfeldgrößen zum Einsatz.